鍍層測(cè)試儀又稱金屬涂鍍層厚度測(cè)試儀，因響應(yīng)環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。可視光線的波長(zhǎng)為0.000001 m (1μm)左右,X射線比其短為0.000000000001 m至0.00000001 m (0.01- 100 ?)。
 

　　鍍層分析儀(基礎(chǔ)款) 可無(wú)損地測(cè)量各種鍍層的厚度和材料成分。具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測(cè)儀器，被廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
 

　　儀器選用適合于多元素鍍層的分析進(jìn)口探測(cè)器，噪音小，可靈活地應(yīng)對(duì)未來(lái)鍍層結(jié)構(gòu)。鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線的強(qiáng)度來(lái)。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
 

　　鍍層分析儀主要應(yīng)用在哪些領(lǐng)域
 

　　第1：金銀首飾領(lǐng)域
 

　　首先在金銀首飾的加工上鍍層分析儀是檢測(cè)儀器，通過(guò)儀器可準(zhǔn)確的檢查出首飾上的金銀含量及鍍層的厚度。而且通過(guò)鍍層分析儀能同時(shí)對(duì)物質(zhì)進(jìn)行多層的測(cè)量檢查，不會(huì)出現(xiàn)差錯(cuò)。
 

　　第2：五金配飾電鍍件領(lǐng)域
 

　　在經(jīng)常需做電鍍的企業(yè)也需要使用鍍層分析儀來(lái)檢測(cè)所有的電鍍件，特別是針對(duì)一些顧客有要求厚度的電鍍件，通過(guò)肉眼是不能識(shí)別出配飾的厚度，有了專業(yè)的鍍層分析儀就不用擔(dān)心厚度的數(shù)值難以測(cè)量了。
 

　　第3：檢測(cè)機(jī)構(gòu)
 

　　檢測(cè)機(jī)構(gòu)需要經(jīng)常使用鍍層分析儀來(lái)為顧客進(jìn)行各種貴金屬的檢測(cè)，因此配備精準(zhǔn)度非常高的檢測(cè)儀器非常有必要。通過(guò)鍍層分析儀的專業(yè)探頭能進(jìn)行鍍層厚度的準(zhǔn)確測(cè)量，而且因?yàn)榉€(wěn)定性良好能持續(xù)不斷進(jìn)行不同物質(zhì)的分析檢測(cè)。