鐵礦石元素測試分析儀

XRF工作原理是用X射線轟擊樣品，樣品受激發(fā)后產(chǎn)生X射線熒光。X射線通常把元素原子K層和L層的內(nèi)層電子打?qū)缭?，產(chǎn) 生的空穴被高能量的外層電子填補。補充到低能量軌道上的高能量電子把多余的能量以X射線熒光輻射岀來。這些輻射岀來的譜線中含有各種元素的特征。像指紋一樣，并且獨立于原子的化學(xué)價態(tài)。輻射的強度與樣品中該元素的濃度成正比。

ScopeX桌面式XRF分析儀采用了先進(jìn)的工業(yè)設(shè)計及人工工程學(xué)理念，精致美觀。儀器整體擁有更小的機身體積和更大的樣品倉，節(jié)約空間的同時，帶來了更高的樣品兼容性。不論是不同形態(tài)（固、液、氣、薄膜等）還是不同形狀（塊狀、片狀、線狀）的樣品，均可被準(zhǔn)確分析。適用于大規(guī)模連續(xù)分析、過程控制、產(chǎn)品質(zhì)量檢驗等環(huán)節(jié)，是石油、鍍層、貴金屬、水泥、礦物、金屬材料和塑料等多種行業(yè)的理想工具。

使用優(yōu)勢

高性能配置

低能X射線搭配智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點元素進(jìn)行分析。

多種準(zhǔn)直器、濾光片自動切換

5mm，3mm，1mm，0.5mm四種準(zhǔn)直器，準(zhǔn)直器和濾光片均可由軟件自動切換，省時省力，通過合適的準(zhǔn)直器和濾光片或無濾光片組合可提升檢測準(zhǔn)確度及靈敏度。

無損檢測

在不損害或不影響被檢測對象使用性能,不傷害被檢測對象內(nèi)部組織，整個測試過程無任何損傷。

Peltier制冷

先進(jìn)Peltier電制冷方式，無需液氮，降低設(shè)備使用復(fù)雜度，節(jié)約人力和設(shè)備維護(hù)成本。

數(shù)據(jù)傳輸

USB、WIFI、無線藍(lán)牙等多種方式進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸。

用戶自定義

文件可采用EXCEL，PDF等格式，用戶可自定義創(chuàng)建測試報告：包括公司標(biāo)志、光譜譜圖及其他樣品信息。

安全性

全封閉式金屬機箱及防泄漏保護(hù)開關(guān)，設(shè)計更科學(xué)，軟硬件配合，機電聯(lián)動，輻射安全符合國標(biāo)GB18871-2002、GBZ115-2002要求。

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