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簡要描述：鍍層分析儀,X射線熒光測厚儀適用于鍍層厚度測量及材料分析，具有無損，可靠，高生產(chǎn)力，高靈活性等優(yōu)點(diǎn)，可用來定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量，廣泛應(yīng)用于電路板、半導(dǎo)體、電鍍、五金產(chǎn)品、汽車零部件、衛(wèi)浴潔具、珠寶等工業(yè)中的功能性鍍層電鍍槽液中的成分濃度分析。
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TrueX COAT適用于鍍層厚度測量及材料分析，具有無損，可靠，高生產(chǎn)力，高靈活性等優(yōu)點(diǎn)，可用來定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量，廣泛應(yīng)用于電路板、半導(dǎo)體、電鍍、五金產(chǎn)品、汽車零部件、衛(wèi)浴潔具、珠寶等工業(yè)中的功能性鍍層電鍍槽液中的成分濃度分析。
使用優(yōu)勢
易攜性
儀器體積更小、重量更輕，方便現(xiàn)場實(shí)時(shí)檢測，可輕松應(yīng)對各種形狀的樣品。
無損檢測
在不損壞檢測對象的前提下，快速精準(zhǔn)地對鍍層樣品進(jìn)鍍層厚度以及樣品元素含量進(jìn)行分析。
散熱性
儀器配有專用的T型槽式散熱裝置，提高儀器散熱性能，無需頻繁等待探測器冷卻。
準(zhǔn)確可靠的定性定量方法
集成了浪聲前沿的Super-FP算法、校正曲線法等先進(jìn)算法，使得儀器不僅測量速度更快，測量準(zhǔn)確性更高，測量一致性更強(qiáng)。
高品質(zhì)進(jìn)口探測器
儀器選用適合于多元素鍍層的分析進(jìn)口探測器，噪音小，可靈活地應(yīng)對鍍層結(jié)構(gòu)。
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手持式礦石分析儀
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